菲希爾X射線熒光測厚儀xdlm237信息

菲希爾臺式測厚儀，X射線熒光測量法，非接觸式測厚儀。X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動或自動方式，測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDLM237 是一款性能優良、應用廣泛的能量色散型 X 射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器圍繞極薄鍍層測量與微量成分分析進行優化設計，在質量控制、質量檢驗和生產監控等環節中具備可靠的檢測能力，是工業檢測領域性能出色的專業測量設備。

應用領域

• 電鍍零部件批量檢測：適用于大規模生產的電鍍零部件，能夠高效、準確地完成鍍層厚度的批量檢測，有助于保障產品質量的穩定性。

• 微小區域薄鍍層測量：依托先進技術，可對微小區域上的薄鍍層實現較為精準的測量，滿足精密制造行業對微觀檢測的嚴格要求。

• 功能性鍍層檢測：在電子工業與半導體工業中，能夠對各類功能性鍍層進行專業測量分析，為端電子產品的品質把控提供有效數據支撐。

• 全自動測量應用：支持全自動測量模式，尤其適用于印刷線路板等復雜工件的批量檢測，可明顯提升檢測效率與自動化程度。




該儀器配備可電動調整的多個準直器和基本濾片，能夠依據不同測量需求，快速營造適宜的激發條件。同時，比例接收器具備較高的計數率特性，為測量結果的高精度輸出提供有力保障。




FISCHERSCOPE®-X-RAY XDLM237 系統以其良好的精確性和穩定的長期性能表現，可降低儀器校準的頻率，為用戶節省不少時間和精力。此外，基于基本參數法的設計，使其在面對鍍層系統、固體及液體等各類樣品時，無需標準片也能完成較為準確的分析與測量，有效拓展了儀器的應用范圍與操作靈活性。