菲希爾金屬鍍層測厚儀XAN215信息

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO定位：經濟型臺式 EDXRF，面向珠寶、貴金屬、錢幣、簡單鍍層的無損檢測。

原理：能量色散 X 射線熒光（EDXRF）+ 菲希爾基本參數法（FP），無需標準片即可分析固 / 液樣品與多層鍍層。

合規：符合 DIN ISO 3497、ASTM B568。

SURTRONIC DUO泰勒霍普森核心優勢

高性價比入門：兼顧精度與成本，適合貴金屬與簡單鍍層場景。

FP 法免標樣：無需標準片即可定量，降低使用門檻。

快速無損：15 秒出結果，不損傷樣品。

穩定可靠：長期穩定性好，減少校準頻率。

操作友好：可視化定位、一鍵測量、多語言軟件。

典型應用

貴金屬成分分析：金、銀、鉑、鈀、K 金、白金、牙科合金。

鍍層厚度測量：單 / 多層電鍍（如鍍金、鍍銠、鍍銀）。

珠寶、錢幣、首飾、貴金屬回收與質量控制。