| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,生物產業,石油,制藥/生物制藥,綜合 |
菲希爾X射線測厚儀 鍍層厚度測量
菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-ray測量模式用于：
單、雙及三層鍍層系統；
雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量；
雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析 （兩層的厚度和合金成分都能被測量）；
能分析多達四種金屬成分的合金；電鍍液中金屬離子含量；
可編程的應用項圖標，用于快速應用項選擇 ；
完整的統計功能，SPC圖，標準的概率圖和矩形圖評估 ；
報告生成，數據輸出；
菜單中的某些選擇項可授權使用；
語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文 ；
菲希爾X射線測厚儀注：
基礎WinFTM軟件版本不允許創建新的應用，所要求的應用不得不在定貨時明確。當校準標準塊與儀器一起定購時，
可在交貨前預先創建應用。若沒有定購校準標準塊，則只可使用已預裝的*無需標準塊的測量應用。
可選擇的Super WinFTM軟件（訂貨號602-950）提供了以下的附加功能：
可隨意創建測量應用；
可把每種測量模式的測量范圍設定為想要的理論上的測量精度；
快速的頻譜分析以決定合金成分。
菲希爾X射線測厚儀 鍍層厚度測量
蘇公網安備32021402002648
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